原子力显微镜 (AFM)
Atomic force microscope (AFM)
仪器型号:Bruker Innova
生产厂家:美国布鲁克
仪器所在单位:江苏大学化学化工学院
仪器安置地点:江苏大学化学化工学院115室
联系人:鲁惠玲,孙林
电话:18896662558, 18352863609
技术指标 | 配置: Innova 最新NanoDrive 控制器; 高分辨率光学系统; Innova 扫描探针显微镜用大范围扫描管; 防震防噪声系统;液体扫描模块; 表面电势显微镜模块。 扫描尺寸:平面内范围90 μm*90 μm、垂直方向范围7.5 μm。 |
主要功能及应用 | 研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构。通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用,作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时,利用传感器检测这些变化,就可获得作用力分布信息,从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。 |